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              等平面硅柵N溝MOS工藝制作步驟及特點

              信息來源: 時間:2020-11-27

              等平面硅柵N溝MOS工藝制作步驟及特點

              N溝道等平面工藝,又稱”選擇氧化法MOS技術”,它的特點是在硅襯底的某一部分有選擇地進行氧化,而在不需要氧化的區域用image.png掩膜保護起來。它的基本方法由圖6-5表示。首先在硅襯底上淀積一層薄的image.png膜,厚度約為0.2~0.9μm,然后,刻去需要氧化部分的image.png膜,接著用熱氧化法進行氧化,生成一層約為1.0μm~1.1μm的氧化層。由于image.png膜的熱氧化速度極慢,并對氧氣氛有掩載作用,所以image.png膜下面的部分并沒有被氧化,而在氧化的區城內,隨著氧化層厚度的增加,硅-二氧化硅的界面逐漸向襯底深處推移,所以約有一半的image.png,膜位于表面之上,另一半則陪于表面之下。這樣,厚的image.png層大部被埋在Si的表面內,使表面比較平整。器件就做在高出氧化層的合面上。

              推MOS常規工藝的討論中知道,為了獲得較高的場閾值電壓,一次氧化往往需要做得很厚,最后在刻出引線孔時,造成很高的二氧化硅臺階,因此金屬互聯線要超過氧化物形成的陡銷階梯。硅柵N溝MOS工藝。在這些臺階的地方,金屬層較薄,容易引起斷線而發生開路,即使開始沒有斷裂,因金屬薄的地方電流密度大,引起電遷移現象,在某些地方產生斷線,而使器件早期失效。采用了上述等平面工藝,由于二氧化硅層是埋在襯底內的,消除了常規工藝中陡峭的二氧化硅臺階,大大提高了器件的可靠性。

              硅柵N溝MOS工藝


              1、硅柵N溝MOS工藝制作步驟

              (1)一次氧化及淀積image.png

              取電阻率為3~5Ωcm(100)晶面的P型硅單晶片,經過化學清洗后,進行一次氧化(做器件的絕緣柵),厚度為100~120nm;然后,用四氧化硅在氨氣中進行分解反應,在硅片上淀積一層image.png薄膜,溫度約為850℃。

              (2)套刻氮化硅和二氧化硅

              套刻后,只有在以后要形成源、漏、溝道區及擴散互連線的部分才留下二氧化硅和氮化硅層,其它部分都被刻去。

              (3)場摻雜

              首先在460℃的條件下,在硅片表面熱分解淀積一層摻硼的二氧化硅層;接著,利用短時間的高溫,將硼向硅表面擴散,使沒有掩膜的部分(稱為場區),摻進一定數量的硼。

              (4)場氧化(厚氧化層生成)

              首先將摻雜的氧化物腐蝕掉,接著在975的濕氧條件下,對無掩膜的硼摻雜區進行局部氧化,生長約1000~1100nm的厚氧化層。硅柵N溝MOS工藝。大約一半在硅原來的表面以下,另一半在表面以上。

              (5)淀積多晶硅

              先將氮化硅膜腐蝕掉,留下的二氧化硅薄膜作為器件的絕緣柵介質。將片子放在高溫的氮氣中退火后,就在硅片表面上淀積一層多晶硅膜,約為480~500nm。最后再進行熱氧化處理。

              (6)套刻多晶硅

              刻出源、漏區的擴散窗口和外連線擴散條。

              (7)磷擴散

              在硅片表面上熱分解淀積一層重磷摻雜的二氧化硅,然后,將硅片推入大約1050℃的恒溫區內,在氮氣中處理10~15分鐘。這樣,就進行了磷擴散,形成了擴散深度約為1Ωm的源漏和摻雜互連線的N+區,同時對多晶硅也進行了摻雜。

              (8)光刻引線

              提供源漏和柵的金屬接觸。

              (9)蒸鋁、反刻

              有些工藝中,在蒸鋁前先蒸發一薄層鈦,然后再蒸鋁,構成鈦-鋁雙層金屬。這對N溝道MOS集成電路特別有利,因為鈦層能防止鋁層因淺N+擴散結的位錯和收縮面造成的失效。

              反刻后,在480℃的氫氣中進行30分鐘的合金處理,以保證金屬和硅接觸良好,并消除硅-二氧化硅界面的表面態。硅柵N溝MOS工藝。最后,再用低溫淀積法,使片子表面生長一層500nm厚的二氧化硅保護膜。

              具體過程如圖6-6(a)~(c)所示。

              2、硅柵N溝MOS工藝工藝特點討論

              采用等平面工藝制造N溝道MOS電路,除了前面已經介紹的表面比較平整,沒有陡前的氧化層臺階,金屬引線不易發生斷裂的優點以外,從整個制作過程看,還有另外一些較為突出的優點。

              硅柵N溝MOS工藝

              (1)在厚氧化區(場區)對硅表面進行局部摻雜。通過局都摻雜,提高了這些區域的表面濃度,使場閾值電壓image.png大大提高。面在制作管子源、漏、溝道區的合面部分,仍然保持著原有的村底濃度,因此不會降低管子的溝道遷移率,從面提高了電路的速度。

              (2)從圖6-7image.png所示的結構可以看出,由于進行了場摻雜,場擴散區可起隔離的作用,使相鄰器件N+區之間的寄生溝道漏電減小到最低限度。硅柵N溝MOS工藝。因此可以靠短器件之間的間距,從而大大提高了電路的集成度。

              (3)因為制作器件的臺面區的襯底濃度較低,估計管子的閾值電壓VT約為0.2V~0.6V,顯然是低了一點。為了提高閾值電壓的數值,可以借助背面柵效應,在襯底加負偏壓,使VT調節至1.4V~2.0V。加了負的襯底偏壓以后,可使厚氧化區的場闊值電壓提高到10V~20V,這就滿足了電路工作的要求。

              (4)在擴散的N+區和場摻雜的P+區之間構成的二極管,可以用來作為柵保護器件。

              由于場摻雜P區表面的受主濃度很高,使這個二極管的雪崩擊穿電壓在20V~30V之間,而且是硬擊穿。硅柵N溝MOS工藝。所以這種柵保護器件就不必象普通MOS電路的柵保護器件那樣,在擴散結周圍覆蓋一個接地的柵電極。

              (5)在上述工藝中,還使用了硅柵工藝,所以還具有硅柵工藝所具有的一切優點。

              上述雖然較MOS常規工藝繁雜,但隨著科學技術的發展,等平面硅柵NMOS工藝已成為制造大規模MOS集成電路的重要手段。

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