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              與襯底弱同型的注入溝道MOS晶體管特性

              信息來源: 時間:2022-7-13

              與襯底弱反型的注入溝道MOS晶體管特性

              現在,讓我們簡單地看一下弱反型特性。ID與VGS的關系曲線看來如圖6.7所示。對于較大的VSB,耗盡區的邊在注入區之外,器件特性與非注入器件的特性定性相似。斜率和以前一樣,正比于1/n,n由式(4.6.20)給山,γ=γ2,且由式(6.2.11)給出。但是,對于較小的VSB,耗盡區的邊在注入區之內,γ=γ1,并由式(6.2.4)給出,因而n就大,斜率就小。對于低電壓的數字應用來說,這可能會產生問題,因為此時,為使器件截止,VGS的“擺幅”必須更大。此外還請注意,隨著VGS的增加,耗盡區的邊可能會移過一個雜質濃度大幅度變化的區域(從注入區中心到它的“邊緣”),于是,n就不能定義為一個簡單的值了,InID對VGS的斜率是變化的,如圖6.7所示;ID與VGS不再成指數關系了。

              與襯底弱反型的注入溝道MOS晶體管特性


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