信息來源: 時間:2020-12-9
以n溝道增強型MOS管為例進行討論。MOS場效應管在應用中有多種連接方式,最常用的是共源連接方式,如圖1.1-7所示。圖中源極與襯底相連接,信號由柵極G輸入,經MOS場效應管放大后由漏極D輸出。當GS電壓VGS變化時,n溝增強型MOS場效應管的輸出特性曲線如圖1.1-8b所示。其轉移特性曲線如圖1.1-8b所示,它反映了漏源電流ID與柵偏壓VGS的關系。圖中VT稱為閾值電壓,它表征MOS場效應管由截止過渡到導通的臨界工作點。只有當柵偏壓高于VT時,MOS場效應管才能導通。
1.1-8a中的輸出特性曲線可以由圖中的虛線劃分為三個工作區,即可調電阻區(I)、飽和區(Ⅱ)和雷崩區(Ⅲ),下面對各區域的主要特性分別作一簡要說明。這里假設源極與襯底相連。
在此區域中,ID隨VDs的變化而近似于線性變化,所以,也稱其為線性區。由半導體表面的基礎知識可知,若p型襯底的摻雜濃度一定時,當VGS>VT,則在柵氧化層的表面會出現n型反型層,即形成源區與漏區之間場感應的導電溝道,如圖1.1-9a所示,但是,若此時漏源電壓為零,則溝道內各處電位相同,故不能形成漏源電流,即ID為零。MOS場效應管的特性曲線。當VDS>0時,在溝道區中將產生橫向電位梯度,因此漏源之間形成電流。而且當VDS增加時,橫向電位梯度增加,電流ID也隨之增加,ID與VDS呈線性變化,此時源區與漏區之間感應出的溝道就相當于一個線性電阻。對應于不同的VGS,溝道電阻值也將發生變化,例如,當VGS增加時,溝道厚度增加,故溝道電阻將減小。
此外,當VDS>0時,由于溝道中存在橫向電位梯度,在溝道區靠近源極處的縱向電場強度較大,而靠近漏極處的電場強度較小,這就導致由源極到漏極的溝道厚度逐漸變薄,將使溝道電阻明顯增加,故此時ID隨VGS的增加速度變得緩慢了,從而出現了可調電阻區中的彎曲部分。
當VDS繼續增加到VDS-VT時,柵極與漏極之間的電壓恰好等于開啟電壓VT,故靠近漏極端的硅表面反型層消失,只剩下耗盡區,即此處溝道厚度為零(漏極處的溝道開始夾斷),如圖1.1-9b所示。這種情況對應于輸出特性曲線中可調電阻區與飽和區的交界處。此后漏極電流開始飽和。
在飽和區域內,ID幾乎不隨VDS而變,故稱為漏極電流飽和區。當VDS>VT-VT時,漏極與柵極之間的電壓小于VT,溝道厚度為零的區域略為擴大,即夾斷點向源極處靠近,如圖1.1-9c所示。MOS場效應管的特性曲線。此時當VT增加時,其增加的電壓基本上加在溝道厚度為零的耗盡區上。由于溝道兩端電壓基本不變,因而,當VDS增加時,漏極電流不再隨之增加而達到飽和值,當然,若VGS增加時,由于溝道電阻減小,故其飽和電流值也相應增加,飽和區是MOS場效應管的主要工作區。
如果VDS大于某一擊穿電壓BVDS,漏極與襯底之間的Pn結發生反向擊穿,ID將急劇增加,特性曲線進入雪崩區(Ⅲ)。此時漏極電流不經過溝道區,而直接由漏極流入襯底。在電路設計時,應避免MOS場效應管工作在雪崩區。
通常n溝增強型MOS場效應管的輸出特性曲線可以分為四個區城(見圖1.1-10a)。
(1)截止區:。
(2)線性區(可調電阻區):,
,ID與VDS近似呈線性關系,此時MOS管的漏源兩端相當于一個線性電阻,其電阻大小受
控制,
越大其電阻值越小。
(3)飽和區:,
,此時隨著VDS的增加,ID變化很小,而ID的大小主要由
電壓值來決定,
越大ID也越大。
(4)雪崩區:,此時,ID隨VDS的增加而迅速增大。
n溝耗盡型MOS場效應管與n溝增強型MOS場效應管的主要區別在于,前者的p型襯底的摻雜濃度較低,故當為零時,柵下的硅表面已形成反型層,即已形成溝道,故只要加上一定的漏源電壓就能形成相當大的漏極電流,只有在柵極上加一個較大的負電壓,才能使柵下的表面由反型轉變為耗盡,此時n溝道消失,漏極電流變為零。使漏極電流為零時的柵源電壓就稱為n溝耗盡型MOS場效應管的夾斷電壓(用
或
表示),n溝耗盡型MOS場效應管的特性曲線如圖1.1-10b所示,其形狀與增強型的完全類似。耗盡型場效應管中
時的飽和電流記為IDSS,常稱為漏源飽和電流。
為了便于比較,圖1.1-10c和d中分別示出p溝增強型和耗盡型MOS場效應管的特性曲線P溝MOS場效應管的輸出特性曲線與n溝的相似。只是在正常運用時,P溝器件的電壓極性以及漏極電流的方向與n溝器件相反。
以上定性討論了MOS場效應管的工作原理,以下將定量計算MOS場效應管的閾值電壓,并且列出VT和ID與VDS,VGS的關系式。
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